URN:NBN:SI:DOC-QV3G2EVS1998Maček, Marijandocuments/doc/Q/URN_NBN_SI_doc-QV3G2EVS_001.pdfdocuments/doc/Q/URN_NBN_SI_doc-QV3G2EVS_001.txt228articlestr. 81-890352-90458981037URN:NBN:SI:doc-QV3G2EVSslvStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCbolometriIR senzorjimerjenjemikroelektronikatoplotno sevanje