URN:NBN:SI:DOC-JG1ZYLFL2003Rosenband, ValeryTorkar, Matjaždocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/html/urn_nbn_si_doc-jg1zylfl.htmldocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/pdf/urn_nbn_si_doc-jg1zylfl.pdfdocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/txt/urn_nbn_si_doc-jg1zylfl.txt374 strani6articlestr. 365-3681580-2949327338URN:NBN:SI:doc-JG1ZYLFLslvInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeInCnitridirentgenska fotoelektronska spektroskopijatanke plastitrde plastiAn XPS analysis of Ni3Al and TiAl3 ion nitrided in a pulsed plasmaXPS-analiza Ni3Al in TiAl3, ionsko nitriranega v pulzirajoči plazmi