URN:NBN:SI:DOC-GMTRMDST2002Grant, John T.documents/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/html/urn_nbn_si_doc-gmtrmdst.htmldocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/pdf/urn_nbn_si_doc-gmtrmdst.pdfdocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/txt/urn_nbn_si_doc-gmtrmdst.txt3666 straniarticlestr. 307-3121580-2949265642URN:NBN:SI:doc-GMTRMDSTengInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeInCAugerjeva spektroskopijacinkov oksidfotoelektronska spektroskopijaobrabatanke plastiAnaliza nanoobrabe in tankih plasti z uporabo AES in XPSAnalysis of nanowear and thin films using AES and XPS