URN:NBN:SI:DOC-DXAI3O262000Čakare, LailaČeh, MiranMalič, BarbaraSamardžija, Zorandocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/html/urn_nbn_si_doc-dxai3o26.htmldocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/pdf/urn_nbn_si_doc-dxai3o26.pdfdocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/txt/urn_nbn_si_doc-dxai3o26.txt3455 straniarticlestr. 269-2731580-2949236202URN:NBN:SI:doc-DXAI3O26slvInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeInCceramicelektronska mikroskopijakeramikatanke plastiCharacterization of ceramic thin films by scanning electron microscopyKarakterizacija keramičnih tankih plasti z vrstično elektronsko mikroskopijo