23 KB1032 KB22 KB199219991997Budkowski, Andrzejletnik:315 straništevilka:6str. 587-591ISSN:1318-0010COBISSID:72874URN:URN:NBN:SI:doc-CXRG865TenInštitut za kovinske materiale in tehnologijeŽelezarna JeseniceŽelezarna RavneŽelezarna ŠtoreKovine zlitine tehnologijefazne mejepolimeripolimerne mešanicepovršinske lastnostitanke plastiInterfacial phenomena in thin polymer films studied by direct profiling techniques| Študij pojavov na mejnih ploskvah tankih polimernih plasti z direktnimi tehnikami profiliranja|Various interfacial phenomena, such as: phase coexistence, sufrace seggregation and wetting, as well as surface directed phase separation, determine many properties of polymer mixtures. These phenomena are studied in blands confined in a thin film geometry. Direct composition vs. depth profiling techniques are used, which have been developed in the last decade. Present paper describes briefly direct profiling methods and interfacial phenomena observed with their help. Discussion is illustrated by experimental results obtained for homopolymer mixtures with nuclear reaction analysis and secondary ion mass spectroscopyRazni pojavi na mejnih ploskvah kot so npr. sobstoj faz, površinska segregacija in omakanje na površini pa tudi s površino usmerjena ločitev faz, določajo mnoge lastnosti polimernih mešanic. Te pojave smo študirali na polimernih mešanicah (blendih) z geometrijo tankih plasti. Uporabljene so biledirektne tehnike profiliranja koncentracije z globino plasti, ki so bile razvite v zadnjem desetletju. Članek na kratko opisuje direktnemetode profiliranja in pojave na mejnih ploskvah, ki smo jih opazovali s pomočjo omenjenih metod. V diskusiji so predstavljeni eksperimentalni rezultati homopolimernih mešanic z jedrsko reakcijsko analizo in sekundarno ionsko masno spektroskopijoTEXTznanstveno časopisjejournalsSlovenian National E-content AggregatorNational and University Library of Slovenia