URN:NBN:SI:DOC-B75DHUI91997Cindro, VladimirMikuž, Markodocuments/doc/B/URN_NBN_SI_doc-B75DHUI9_001.pdfdocuments/doc/B/URN_NBN_SI_doc-B75DHUI9_001.txt273articlestr. 177-1810352-904512891943URN:NBN:SI:doc-B75DHUI9engStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCdetektorjiionizirajoče sevanjepolprevodnikipoškodbesilicijRadiacijske poškodbe v mikropasovnih detektorjihRadiation damage in Si microstrip detectors