URN:NBN:SI:DOC-67KX4MSM2003Orel, BorisŠvegl, Francdocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/html/urn_nbn_si_doc-67kx4msm.htmldocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/pdf/urn_nbn_si_doc-67kx4msm.pdfdocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/txt/urn_nbn_si_doc-67kx4msm.txt1/23 strani37articlestr. 29-311580-2949824167URN:NBN:SI:doc-67KX4MSMengInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeInCbakrov oksidBerremanov pojavFTIR spektroskopijaoptične lastnostitanke plastiThe application of FT-IR reflection-absorption spectroscopy for determining the textural properties of copper oxide thin filmsUporaba FT-IR refleksijsko-absorpcijske spektroskopije za določitev teksturnih lastnosti tankih plasti bakrovega oksida