URN:NBN:SI:DOC-3UAMZMIK2016Ahilan, A.Deepa, P.documents/doc/3/URN_NBN_SI_doc-3UAMZMIK_001.pdfdocuments/doc/3/URN_NBN_SI_doc-3UAMZMIK_001.txt446articlestr. 257-2660352-9045291326208URN:NBN:SI:doc-3UAMZMIKengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCpomnilnikisevanjevečbitne napakezaščitaNapoved in korekcija s sevanjem povzročenih večbitnih napak v pomnilnikih z uporabo učinkovitih CMC kodRadiation induced multiple bit upset prediction and correction in memories using cost efficient CMC